产品详情
查看大图

  • 产品名称：ST2000-DLXn厚度仪

  • 产品型号：ST2000-DLXn厚度仪
  • 产品厂商：其它品牌
  • 产品文档：
你添加了1件商品 查看购物车
简单介绍：
ST2000-DLXn厚度仪 ·*优惠的价格 ·适合大学和科研中心 测量迅速，操作简单 非接触式，非破坏方式 优良的重复性和再现性 用户易操作界面 每个影像打印和数据保存功能 可测量多达3层 可背面反射
详情介绍：
ST2000-DLXn厚度仪
·*优惠的价格
·适合大学和科研中心
 尺寸  190 x 265 x 316 mm
 重量  12Kg
 类型  手动的
 测量样本大小  ≤ 4"
 测量方法  非接触式
 测量原理  反射计
 特征

 测量迅速，操作简单
 非接触式，非破坏方式
 优良的重复性和再现性
 用户易操作界面
 每个影像打印和数据保存功能
 可测量多达3层
 可背面反射
 活动范围  150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
 测量范围  200Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
 光斑尺寸  20㎛ 典型值
 测量速度  1~2 sec./site
 应用领域

 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
 电解质:
 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
 选择  参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
 探头类型  三目探头
 nosepiece  Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
 照明类型  12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

* 请输入您的名字，方便我们和您联系
* 请输入您的电话，方便客服及时解答您的问题
* 请输入您详情地址，方便详细提供当地的市场讯息