ST2000-DLXn厚度仪 ST2000-DLXn厚度仪上海美盛自动化设备有限公司

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简单介绍：

ST2000-DLXn厚度仪 ·*优惠的价格 ·适合大学和科研中心测量迅速，操作简单非接触式，非破坏方式优良的重复性和再现性用户易操作界面每个影像打印和数据保存功能可测量多达3层可背面反射

详情介绍：

ST2000-DLXn厚度仪
·*优惠的价格
·适合大学和科研中心

尺寸	190 x 265 x 316 mm
重量	12Kg
类型	手动的
测量样本大小	≤ 4"
测量方法	非接触式
测量原理	反射计
特征	测量迅速，操作简单非接触式，非破坏方式优良的重复性和再现性用户易操作界面每个影像打印和数据保存功能可测量多达3层可背面反射

活动范围	150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围	200Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
光斑尺寸	20㎛典型值
测量速度	1~2 sec./site
应用领域	聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质: 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
选择	参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型	三目探头
nosepiece	Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型	12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

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产品名称：ST2000-DLXn厚度仪