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  • 产品名称:SXR-225 X射线测厚仪

  • 产品型号:SXR-225 X射线测厚仪
  • 产品厂商:其它品牌
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简单介绍:
SXR-225 X射线测厚仪 美国EMC公司设计和生产X射线测厚仪和轧钢控制系统已有超过40年的历史。我们的测厚仪使用X-射线脉冲技术,因此能以更低的辐射提供更**的测量结果。SXR-225 X射线测厚仪采用*新的固态电路设计,打破了以往线路频率响应的限制。SXR-225 X射线测厚仪运行频率为225Hz,其快速的响应时间使其能更好地满足当今业界“低成本、高质量、高速度”生产的要求。
详情介绍:
SXR-225 X射线测厚仪
美国EMC公司设计和生产X射线测厚仪和轧钢控制系统已有超过40年的历史。我们的测厚仪使用X-射线脉冲技术,因此能以更低的辐射提供更**的测量结果。SXR-225 X射线测厚仪采用*新的固态电路设计,打破了以往线路频率响应的限制。SXR-225 X射线测厚仪运行频率为225Hz,其快速的响应时间使其能更好地满足当今业界“低成本、高质量、高速度”生产的要求。

SXR-225 X射线测厚仪

sxr 225 x-ray gage

美国EMC公司设计和生产X射线测厚仪和轧钢控制系统已有超过40年的历史。我们的测厚仪使用X-射线脉冲技术,因此能以更低的辐射提供更**的测量结果。SXR-225 X射线测厚仪采用*新的固态电路设计,打破了以往线路频率响应的限制。SXR-225 X射线测厚仪运行频率为225Hz,其快速的响应时间使其能更好地满足当今业界“低成本、高质量、高速度”生产的要求。

 

它是如何工作的:

SXR-225 X射线测厚仪包括三个主要部件:

1) 一个X射线发生源,用于产生有限度可控制的X-射线
2) 一个固态设计的探测器,用于测量未被吸收的X-射线
3) 一个先进模块化设计的控制器,用于控制和读取发生源和探测器

发生源的KV等级由被测产品的厚度和材质而定。

在运行时,产生的X-射线脉冲穿过被测量的材料,到达探测器的射线量由于产品的吸收而衰减,射线的衰减量和被测产品的厚度成函数关系。检测到的信号被送往显示控制器用于合金补偿和(或)厚度显示。

 

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应用范围

  •  轧钢厂输入/输出信号测量(INPUT / OUTPUT GAGING OF ROLLING MILLS)
  •  圆柱体壁厚(WALL THICKNESS OF CYLINDERS)
  •  板厚度和剖面(SHEET THICKNESS AND PROFILE )
  •  客户定制系统用于特定的需求(CUSTOM DESIGNED SYSTEMS FOR SPECIAL REQUIREMENTS )

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测量材料
钢(STEEL)
铝(ALUMINUM)
铜(COPPER)
合金(ALLOYS)
塑料(PLASTICS)
橡胶(RUBBER)
玻璃(GLASS)
刨花板(PARTICLE BOARD)

产品优点
选择美国EMC公司脉冲型X-射线测厚仪*主要的原因是:

1) X-射线信噪比可取、稳定性好;

2) 当测厚仪停止工作时不产生辐射。而同位素测厚仪则可能在多达10多年的衰期内均有辐射;

3) 相比于同位素测厚仪,对于X-射线测厚仪的应用政府法规更宽松;

4) 非接触式测量更适合于非规则表面和恶劣环境的应用;

5) SXR-225设计坚固、稳定可靠、性价比高。

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技术规格

  10 KV 
箔片(foil)
30 KV 
薄(light)
90 KV 
中等(medium)
120 KV 
厚(heavy)
线电压(Line voltage) 115 VAC±10%,50/60Hz,单相(Sola regulator for any line)
电源需求(Power
requirements
)
240 VA 500 VA
厚度范围(Thickness
ranges
)

铝(Aluminum)

0.0002" - 0.010"

(0.005-0.250 mm)

0.005" - 0.250"

(0.125 - 6.3 mm)

0.100" - 2.20"

(2.5 – 55 mm)

0.250" - 3.50"

(6 - 89 mm)

钢(Steel) N/A

0.0005" - 0.020"

(0.02 – 0.5 mm)

0.010" - 0.200"

(0.25 – 5 mm)

0.020" - 0.400"

(0.5 – 10 mm)

铜(Brass) N/A

0.0002" - 0.014"

(0.005 – 0.35mm)

0.006" - 0.120"

(0.15 – 3.0 mm)

0.010" - 0.200"

(0.25 – 5.0 mm)

*噪音(Noise)

±0.5%
@ 0.012 mm(±0.5% at 0.0005")

名义厚度的±0.25%(±0.25% of nominal thickness)

名义厚度的±0.3%(±0.3% of nominal thickness)
***小灵敏度(Minimum
sensitivity)
±0.2% ±0.1% ±0.15%
***稳定性(Stability) 每8小时小于±0.1%,温度范围为15-43℃(Less than ±1% per 8 hours 60-110°F)
预热(Warmup) 二个小时达到名义厚度的0.5%(Two hours to reach 0.5% of nominal thickness)
预热后的反应时间(Reaction time
after warmup
)

基本型测厚仪,无阻拦档板 = 3 s 获得名义厚度的0.5%

(Basic gage, no shutter = 3 sec to attain 0.5% of nominal thickness)

轧钢型,带阻拦档板 = 300 ms 达到名义厚度的0.5%

(Mill version, with shutter = 300 ms to reach 0.5% of nominal thickness)

时间常数(Time constant) 指定 30 ms, 噪音增加时可选 15 ms(30 ms as specified, 15 ms optional with noise increase)
线电压灵敏度(Line voltage sensitivity) 名义厚度时少于0.5%,总的达到100-125V(Less than 0.5% of nominal thickness total 100-125 V)
空气间隙(Air Gap)

1" - 3"

(25 – 75 mm)

2" - 12"

(50 – 300 mm)

4" - 24"

(100 – 600 mm)

6" - 30"

(150 – 75 mm)

材料移动(Material Whip) 空气间隙的20%(20% of air gap)

标准读取(sandard readout)

6”(150 mm)工业表,校准成名义厚度的±10%

(6 inch industrial meter calibrated ± 10% of nominal thickness)

* 噪音是在100Hz记录器,30 ms时间常数及*小空气间隙时测量的(Noise is measured on 100 HZ recorder at 30 ms time constant at minimum air gap.)
** *小灵敏度是基于大约1/5的总噪音(总P/P噪音的1/5,百分比)(Minimum sensitivity is based on approximately 1/5 of the total noise envelope... 
    (1/5 of total P/P noise in percent))
*** 发生源和探测器在冷却剂达到±5% ℉(±2.8% ℃)时稳定(Source tank and detector stabilized with coolant to ±5% °F)

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